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您當前的位置： X射線熒光分析儀介紹
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X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。
用X射線照射試樣時，試樣可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。
X射線熒光光譜儀分為波長色散、能量色散、非色散X熒光、全反射X熒光。 X射線熒光光譜（XRF）具有干擾小、分析速度快、并且可以同時進行多元素分析等優(yōu)點，是固體物質成分分析的常規(guī)檢測手段，也是一種重要的表面/表層分析方法。
X射線熒光分析儀應用領域
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RoHS檢測：
有毒金屬檢測
廢舊金屬回收
貴金屬檢測
測試須知
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1.粉末樣品需提供3-5g，樣品粒度小于200目，完全烘干，送樣前請確保樣品量滿足要求；
2.輕合金（鋁鎂合金）厚度不低于5mm，其它合金不小于1mm，其它材料厚度需滿足3-5mm；
3.檢測單元表面盡量平整，整塊的固體樣品，當樣品尺寸直徑在29mm~50mm，高度在30mm以下，可以直接測試。當樣品尺寸直徑在24mm以下，高度在20mm以下，需放入樣品池后置入固體樣品盒，在真空環(huán)境中進行測試。
4.粉末樣品可能會使用硼酸壓片；
5.有效元素測試范圍：13Ai~92U。
