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掃描電鏡SEM檢測
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掃描電子顯微鏡是目前常見的用于表面形貌觀察的分析技術。具有高分辨率，較高的放大倍數；景深效果好，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構；試樣制備簡單；配有X射線能譜儀裝置，可同時進行形貌觀察和微區成分分析。 通過掃描電子顯微鏡觀察材料表面形貌，為研究樣品形態結構提供了便利，有助于監控產品質量，改善工藝。 觀察的主要內容是分析材料的幾何形貌、材料的顆粒度、及顆粒度的分布、物相的結構等。 |   |
SEM電鏡測試應用范圍
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主要用于復合材料、陶瓷材料、金屬材料、高分子材料、生物材料、電子材料等塊體、片狀、薄膜樣品的微觀形貌分析及其成份的定性、半定量分析。
（1）材料范圍：除磁性材料之外的任何無機材料，包括粉體、薄膜和塊材；不適用于有機和生物材料。
（2）表征范圍：微觀形貌、顆粒尺寸、微區組成、元素分布、元素價態和化學鍵、晶體結構、相組成、結構缺陷、晶界結構和組成等。
SEM掃描電鏡檢測示例
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SEM/EDS設備展示
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送樣須知
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粉末樣品基本要求
（1）單顆粉末尺寸建議小于1μm；
（2）無磁性；
（3）以無機成分為主，否則會造成電鏡嚴重的污染，高壓跳掉，甚至擊壞高壓槍；
塊狀樣品基本要求
（1）需要電解減薄或離子減薄，獲得幾十納米的薄區才能觀察；
（2）如晶粒尺寸小于1μm，也可用破碎等機械方法制成粉末來觀察；
（3）無磁性；
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設立了無損檢測、掃描電鏡儀器分析、化學分析、物理分析、切片與金相測試，環境 可靠性測試等眾多實驗室，為您提供—站式材料檢測，失效分析及檢測報告。 |
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